特勵達力科WaveMaster 8 Zi-B 示波器產(chǎn)品簡介

高帶寬，

WaveMaster 8 Zi-B 示波器具有通用測試通用性，具有串行數(shù)據(jù)鏈路分析和 DDR 測試所需的帶寬和工具。

最大能力

同時支持50Ω和1MΩ的輸入，以支持更廣泛的探頭。

混合信號采集能力

全面的串行觸發(fā)和解碼

高速串行數(shù)據(jù)測試工具的標(biāo)志性代表 - QualiPHY 一致性測試自動化、DDR 和串行數(shù)據(jù)測試。

適合串行數(shù)據(jù)和 DDR

簡單而強大的一致性測試自動化

交互式 DDR 調(diào)試工具包

最完整的眼圖、抖動和噪聲分析

Teledyne LeCroy 的端到端鏈路信號完整性分析 WaveMaster 8 Zi-B 示波器使用 WavePulser 40iX 和其他工具。

分析整個鏈接

從導(dǎo)入 S 參數(shù)文件 WavePulser 40iX

去嵌入設(shè)備和模擬通道

測量發(fā)射器和接收器均衡效果。

最大能力

WaveMaster 8 Zi-B 示波器結(jié)合了高帶寬性能（高達 20 GHz）和通用功能，可實現(xiàn)全面的驗證和調(diào)試功能。

50Ω 和 1 MΩ 輸入，支持最寬的探頭

WaveMaster 是一款還提供內(nèi)置 1 MΩ 輸入的高帶寬示波器。 這允許直接連接無源探頭，并支持廣泛的低壓、高壓和電流探頭，所有這些都不需要使用昂貴的附加外部適配器。

混合信號采集，低速和高速

使用混合信號選項擴展您的采集范圍，用于具有多達 36 個通道和 500 MHz 數(shù)字時鐘速率的低速數(shù)字采集或具有多達 18 個通道和 6 Gb/s 數(shù)字時鐘速率的高速數(shù)字采集。

綜合串行數(shù)據(jù)觸發(fā)器/解碼器

全面的低速串行數(shù)據(jù)觸發(fā)器和解碼器，加上測量/圖形和眼圖測試，提供了對低速事件的最佳因果分析。 輕松將低速串行交互與高速串行數(shù)據(jù)或其他事件相關(guān)聯(lián)。

特勵達力科WaveMaster 8 Zi-B 示波器適合串行數(shù)據(jù)和 DDR

WaveMaster 8 Zi-B 是用于高速串行數(shù)據(jù)和存儲器一致性測試和調(diào)試的最佳示波器平臺。

Teledyne LeCroy QualiPHY 自動一致性測試主對話框。

QualiPHY 自動一致性測試

支持 PCI Express、USB、HDMI™、DisplayPort™、以太網(wǎng)、車載以太網(wǎng)、DDR 和許多其他串行數(shù)據(jù)標(biāo)準(zhǔn)

全自動發(fā)射機和接收機測試和接收機測試校準(zhǔn)

分步說明和自動報告生成

自動通過/失敗測試報告

最完整的串行數(shù)據(jù)分析工具集

多通道抖動和眼圖分析

LaneScape™ 比較模式

垂直噪聲和串?dāng)_分析

集成均衡、仿真和去嵌入

虛擬探測

全面的 DDR 測試套件

通過 DDR2/LPDDR2X 支持 DDR5/LPDDR4

JEDEC 物理層一致性測試

DDR 調(diào)試工具包 在 DDR 設(shè)計和集成周期中提供快速問題解決

HDA125高速數(shù)字分析儀 用于靈活的混合信號探測

探測多功能性高達 20 GHz

分析整個鏈接

結(jié)合 WavePulser 40iX 高速互連分析儀， WaveMaster 8 Zi-B 示波器和 SDAIII-CompleteLinQ 選項提供了最完整的信號完整性分析工具包。

去嵌入夾具和測試電纜

從 LeCroy 導(dǎo)入 S 參數(shù) WavePulser 40iX 或其他工具

使用 眼科醫(yī)生 和 虛擬探頭 工具可輕松準(zhǔn)確地消除固定裝置和電纜的影響

應(yīng)用完整的 串行數(shù)據(jù)分析軟件包 用于直接在被測器件的輸出引腳進行全眼圖、抖動和噪聲分析的去嵌入波形工具包

模擬真實世界的通道損失

WavePulser 40iX 簡化并加快測試通道損耗曲線的準(zhǔn)確測量

采集信號路徑中任意點的波形，然后嵌入通道的效果

同時比較多個測試點的眼圖、抖動和噪聲測量

模擬 Tx 和 Rx 均衡

串行數(shù)據(jù)分析軟件包 使用 Eye Doctor 可以模擬所有常見的均衡類型，包括：

— 發(fā)射機強調(diào)

— 接收器 FFE

— 接收器 CTLE

— 接收器 DFE

完整的 PCI Express 物理層測試解決方案

Teledyne LeCroy 的 PCI Express 電氣測試解決方案將儀器與先進的軟件相結(jié)合，用于自動發(fā)送器、接收器和鏈路均衡 (LEQ) 測試以及從物理層到協(xié)議操作的可見性。

USB 和 USB Type-C 物理層測試解決方案

2011 年，Teledyne LeCroy 成為獲得 USB-IF 批準(zhǔn)的 3.0 Gb/s USB 5“Gold Suite"。 Teledyne LeCroy 繼續(xù)成為值得信賴的解決方案USB4, USB 3.2, Thunderbolt™ 3/4 和顯示端口™ 2.0標(biāo)準(zhǔn)。